Skip to main content

COPRA ProfileScan Desktop kiểm soát chất lượng một cách cải tiến và hiệu quả về chi phí

COPRA ProfileScan Desktop cải tiến của chúng tôi là một thiết bị lí tưởng để quản lý chất lượng các biên dạng được uốn tạo hình. Bằng phép đo không tiếp xúc và không phá hủy với chỉ một camera, nó đặc biệt hiệu quả về chi phí và có thể đo lường toàn bộ tiết diện có thể nhìn thấy.

Nguyên tắc phần chiếu sáng bằng laze

Chủ yếu là các máy quét biên dạng quang học được sử dụng trong quản lý chất lượng biên dạng. Có nhiều nguyên tắc đo lường khác nhau cho các nhiệm vụ khác nhau.

Bên cạnh các yêu cầu kỹ thuật, tính hiệu quả về chi phí cũng đóng một vai trò quan trọng. Nhìn chung, ưu điểm của thiết bị quang học so với thiết bị tiếp xúc là số lượng thuộc tính được đo lường nhiều hơn.

Với cái gọi là Nguyên tắc phần chiếu sáng bằng laze, một đường laze đang được chiếu lên biên dạng, do đó phần chiếu sáng sẽ được mô tả một cách sinh động. Cảm biến bắt được nó và bằng phép đạc tam giác, một tiết diện ba chiều có thể được tính toán.

COPRA ProfileScan Desktop – phép đo lường tiết diện chính xác và hiệu quả về chi phí

Cần hai bước để đo lường bề mặt biên dạng. Trước hết, nó cần được số hóa, để sau đó có thể xử lý dữ liệu.

Các thiết bị quang học thường được trang bị một vòng cảm biến gồm nhiều camera khác nhau. Tuy nhiên CPS làm việc với phương pháp 360° được cấp bằng sáng chế và đạt giải thưởng của chúng tôi, theo đó cho phép hiển thị toàn bộ phần tiết diện có thể nhìn thấy chỉ với một bộ cảm biến và bàn xoay. Nhờ có cài đặt này, một phép đo đơn giản và hiệu quả về chi phí được thực hiện. Thiết bị có thể được tích hợp dễ dàng vào trong quy trình sản xuất.

Các điểm đánh dấu tham chiếu đang được quét dọc theo biên dạng trong quá trình đo. Sau khi xoay một vòng biên dạng, phần mềm được tích hợp đo tất cả các phép chiếu xuống một đường viền biên dạng. Các thuật toán cần thiết được điều chỉnh cho phù hợp với các phần được uốn tạo hình.

Ngoài ra, phương pháp của chúng tôi còn đưa ra các khả năng mới để đo lường các biên dạng có khe. Mặc dù các sản phẩm luôn được quét từ bên ngoài, nhưng CPS cho phép hiển thị các khu vực rộng lớn bên trong thông qua các khe nhỏ trên biên dạng.

Hơn nữa, quy trình không tiếp xúc và không phá hủy này đặc biệt thích hợp với các vật liệu nhạy cảm và dễ bị biến dạng.

COPRA ProfileScan – độ linh hoạt tối đa với phương pháp đo 360°

Thiết bị này có thể quét các biên dạng hở và khép kín từ bên ngoài, dù là thép, nhôm, gỗ hay nhựa. Camera đặc dụng có dải động cao, để mà có thể đo được nhiều bề mặt biên dạng khác nhau.

COPRA Profile Scan Desktop 80 có thể đo các biên dạng với chiều rộng tối đa 80 mm và chiều dài tối đa 310 mm. CPS 200 được trang bị một cảm biến kép và do đó có thể quét các tiết diện có chiều rộng tối đa 200 mm (chiều dài 760 mm).

Nhanh chóng - Chính xác - Hiệu quả: COPRA ProfileScan Desktop

  • Chỉ một bộ cảm biến (kép) để đo 360°
  • CPS có thể được sử dụng trên Desktop.
  • Nhiều phép chiếu có thể được thực hiện cho một hệ thống với 3 - 6 bộ cảm biến.
  • Kể cả các khe nhỏ trong biên dạng cũng cho phép đo lường các khu vực bên trong rộng lớn
  • Không tiếp xúc. Các phép đo biên dạng có tiếp xúc thường là không thể.
  • Đo các tiết diện biên dạng một cách không phá hủy: các khu vực ngắn đến 310 mm có thể được sử dụng mà không cần cắt.
  • Hộp cảm biến mạnh
  • CPS có thể lắp ráp/tháo rời một cách nhanh chóng.
  • Kết nối trực tiếp với Laptop hoặc máy tính để bàn. Không cần một bộ điều khiển riêng hoặc một bộ cấp nguồn bên ngoài
  • Các chức năng đo lường có thể được cấu hình riêng lẻ.
  • Tài liệu hóa các kết quả quét.

Specifications

 Desktop 80Desktop 200
Measuring PrincipleLight section (Laser triangulation)Light section (Laser triangulation)
Profile length max. 1)310 mm760 mm
Profile diameter max. 2)70...80 mm175...200 mm
Profile width min.15 mm15mm
Repeatability rel. to measuring field+/-0,013%+/-0,018%
Accuracy rel. to measuring field+/-0,03%+/-0,04%
Number of sensors12
Dimensions340/465/310 mm550/570/575 mm
Dimension case430/495/185 mm630/660/280 mm

1) Other dimensions on request
2) In dependence of profile cross section

US-Patent: US 9,127,936 B2